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氢气放电源打靶的X射线新谱线能量测量不确定度评估
作者:秦建国王大伦赖财锋 浏览次数:2417 【摘要】用氢气放电产生的离子和X射线打靶的方法研究打靶谱时,观测到了与打靶材料无关的五条X射线新谱线:(1.74keV±0.11)keV,(2.28±O.07)keV,(2.60±0.08)keV,(3.29±0.10)keV,(3.66±0.11)keV。X射线谱的测量是用Si(Li)谱仪和HPGe谱仪实现的。因此要求谱仪系统中的微机多道要能准确的给出五条X射线新谱线谱峰的能量值.测出的五条X射线新谱线的能量是否可信取决于谱仪系统工作的稳定性和能量刻度。通过测量谱仪系统的零点和道数一能量转换系数完成谱仪系统的能量刻度。由于五条新谱线的能量集中在低能区(小于4keV),所以谱仪系统的零点对能量刻度的影
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